Selected area (electron) diffraction (abbreviated as SAD or SAED) is a crystallographic experimental technique typically performed using a transmission electron microscope (TEM). It is a specific case of electron diffraction used primarily in material science and solid state physics as one of the most common experimental techniques.

首先需要弄清楚TEM可用于哪些用途，一般有两方面的目的：一是查看形貌和高倍放大固体材料内部缺陷；其次，结合电子衍射技术（SAED）进一步分析了试样晶体结构，晶相组成。 关于看形貌只需选择美观、清晰能够表现出材料形貌特征的图即可，一般其比例尺在20-200nm。 对晶体结构及暴露晶面的分析可分为通过HRTEM（比例尺≤5nm）进行晶格间距的分析和通过SAED对晶体结构和晶相的判断，具体步骤如下： 1、对HRTEM分析. 1.标卡的标定. 打开Digital …

2024年3月15日 · High-performance gas sensors are critical for monitoring the environment, detecting health problems and ensuring safety. Metal-organic frameworks (MOFs) are considered promising gas-sensitive materials due to their elevated porosity, large specific surface area, and various morphologies.

saed 盆盆科研 发消息 山东大学 硕博，武汉某高校 博士后 助理研究员 发表多篇高水平SCI，获批国家及省级博士后项目 科研日常分享，基金写作分享 日常生活分享

选区 电子衍射 (SAED,selected area electron diffraction)由选区形貌观察与电子衍射 结构分析 的微区对应性，实现 晶体 样品的形貌特征与 晶体学 性质的 原位分析。 简单地说，选区 电子衍射 借助设置在 物镜 像平面的选区光栏，可以 对产生 衍射的样品区域进行选择，并对选区范围的大小加以限制，从而实现形貌观察和电子衍射的微观对应。 选区电子衍射的基本原理见图。 选区光栏用于挡住光栏孔以外的 电子束，只允许光栏孔以内视场所对应的样品微区的成像电子束通过，使 …

2024年3月11日 · Fe单原子促进了SIB的快速相变，结合HoMS结构缓解体积膨胀，缩短钠离子传输路径等优势有效提升了材料的反应动力学。 当其用作钠离子电池 (SIB)负极时展现了优异的电化学性能。 图1.Fe-M-HoMS-Q的形貌和电子结构。 (a) SEM， (b) TEM， (c)元素分布， (d)低通滤波原子分辨率STEM-ADF和 (e) Fe-M-HoMS-Q图1d中黄色方框标记的放大部分。 Fe-M-HoMS-Q的Mo k-edge (f) XANES和 (h) EXAFS分析，Fe k-edge (g) XANES和 (i) EXAFS分析。 通过形貌及电 …

2016年7月6日 · The clear lattice spacing and fast Fourier transform selected-area electron diffraction (FFT-SAED) patterns indicate that Fe 2 O 3 nanosheets and nanorods are single crystalline.

Transmission Electron Microscopy Selected Area Electron Diffraction refers to a technique that utilizes high-energy electron beams to achieve sub-Å spatial resolution for characterizing crystal structures at interfaces.

Selected area electron diffraction (SAED) patterns are a projection of the reciprocal lattice, with lattice reflections showing as sharp diffraction spots [3]. By tilting a crystalline sample to low-index zone axes, SAED patterns can be used to identify crystal structures and …

2025年2月20日 · 在TEM中，根据入射电子束的几何性质不同，主要有两类衍射技术：选区电子衍射（selected area electron diffraction，简称SAED）和会聚束电子衍射（convergent beam electron diffraction，简称CBED）。 前者以平行的电子束作为入射源，后者以具有一定会聚角（一般在±4°以内）的电子束作为入射源。 这两类技术都有很大发展，并具有各自不同的专门用途。 SAED是在TEM视域范围内选择某一小区域进行电子衍射，图2.1为选区电子衍射的原理图。 …