KGD测试系统 - KGD测试方案 - KGD测试单元 | SPEA
SPEA 的 KGD 测试单元经专门设计，可将完整的测试范围、精确度参数测试与大批量制造流程所要求的吞吐量和自动化结合起来。 其成果是经过全面测试、合格的 IC 器件，能够满足完整的 …
KGD测试：确保半导体制造品质 - SPEA
已知良好芯片（Known Good Die, KGD）测试是半导体制造过程中的一个关键步骤，尤其是对于像碳化硅（SiC）器件这样的功率半导体器件。 通过在单个芯片级别进行全面测试，制造商可以 …
KGD Test Cells - Ensure KGD quality and performance - SPEA
SPEA’s KGD Test Cells are specifically designed to combine full test coverage and precise parametric testing with the throughput and automation required by high-volume manufacturing …
转塔式处理器-H5000 - SPEA
SPEA H5000 转塔式处理器专为执行 高速度和高精度的半导体测试、检测和精加工 而设计。 其模块化设计带来了 最大的 配置 灵活性，具有种类繁多的 输入/输出媒介 和 测试单元，可满足各 …
KGD Testing: Ensuring Quality in Semiconductor Manufacturing - spea…
2024年9月26日 · Known Good Die (KGD) testing is a cornerstone of quality control for SiC devices, ensuring reliable, high-performance products while minimizing yield losses through …
SPEA 功率半导体测试仪- DOT800T简介 - CSDN博客
2022年10月18日 · KGD的英文名称是Known Good Die，即合格芯片。SPEA拥有全球顶尖的把半导体测试技术，针对晶圆切割后彻底测试每个单独的裸片，SPEA开发了完整的测试设备和方 …
SPEA | Automatic Test Equipment (ATE)
Since 1976, SPEA invents, designs and manufactures the best automatic test equipment for Semiconductor ICs, MEMS, electronic boards and modules. With SPEA testers, …
KGD测试技术解析-CSDN博客
2022年12月14日 · 为辅助提升芯片良率，减少组装缺陷，spea专门开发了正对kgd的测试单元，这套解决方案可将完整的测试范围、精确度参数测试与大批量制造流程所要求的吞吐量和自动化 …
SPEA - 公司介绍
SPEA的“半导体和MEMS微机电测试系统”业务主要针对的是识别、汽车、医疗、SOCs的模拟混合信号测试以及MEMS微机电系统测试和校准。 产品线包括H3000测试处理器，Comptest 多路 …
SPEA公司是做什么的，核心产品包括哪些？ - 知乎
SPEA的DOT800T将一整套的功率测试解决方案整合到了单台设备之中，提供了在全范围功率应用中进行 ISO、AC、DC 测试 所需的所有资源，从晶圆级到最终产品，均可轻松完成。 这款产 …