
低良率問題的解決之道:從SPC到FDC的質量管理演進
故障檢測與分類(FDC)是一種基於製程設備參數實時監控的工具,旨在通過對設備運行狀況的監測,及時檢測和分類設備故障,預防製程異常。 1.FDC的核心理念:FDC的核心在於通過對製程設備的運行參數進行實時監控和分析,預測並預防設備故障和製程異常,確保設備始終處於穩定運行狀態。 2.FDC的應用場景:FDC適用於半導體、汽車製造等高度依賴設備性能的行業。 通過對設備在不同製程步驟中的參數曲線進行分析,FDC能夠及時發現潛在故障,並進行分類處理,從 …
求助 设备fdc中的u-chart与t-chart怎么分析 - 百度贴吧
设备 FDC (Fault Detection and Classification) 中的 U-chart 和 T-chart 是 FDC 中常用的两种控制图,用于帮助分析设备发生故障的原因。 其中,U-chart 主要用于分析事件的计数数据,T-chart 主要用于分析事件的时间数据。
產品介紹 - 失效偵測與分類系統(FDC)
失效偵測與分類系統(FDC)收集機台Temporal資料,並轉為Indicator,進行監控與異常偵測;若有異常發生時,系統立即發出警訊並對產品與機台採取適當應變措施 (如: 停機, Hold Lot,通知工程師..等),避免異常產品的持續發生。
Semiconductor fault detection and classification for yield …
2012年8月29日 · To address real requirements, this study aims to develop a framework for semiconductor fault detection and classification (FDC) to monitor and analyze wafer fabrication profile data from a large number of correlated process variables to eliminate the cause of the faults and thus reduce abnormal yield loss.
半导体工业软件(六):SPC(统计过程控制) - 知乎专栏
2021年2月2日 · 控制图(control chart)是对过程质量特性值进行测定、记录、评估,从而监察过程是否处于控制状态的一种用统计方法设计的图。 图上有中心线(Central Line,CL)、上控制限(Upper Control Limit,UCL)和下控制限(Lower Control Limit,LCL),并有按时间顺序抽取的 …
We present a novel method to simultaneously detect and classify faults in a single-step using fault-specific control charts. These control charts are designed to discriminate between specific fault classes and the normal process operation as well as all other fault classes.
半导体厂FDC系统 的trace data知识 - CSDN博客
2024年4月28日 · fdc sv追踪数据是关键,通过ai和机器学习进行异常检测,提高系统准确性和效率。 同时,介绍了Trace Data的关键要素,如晶圆ID、芯片位置坐标和测试ID等,用于故障分析和质量控制。
FA FDC-制造执行系统 | 上扬软件 MES - FA Software
Terra FDC高频次采集机台生产工艺中的关键数据,利用算法和经验模型,包括统计学算法、工艺模型的算法和人工智能算法,预配置参数的限制值,持续监控设备参数,以对设备健康状态提供主动而快速的反馈,如侦测到设备故障,则采取相关警报和控制功能。
东智设备故障侦测与分类系统 G-FDC - Getech
FDC系统通过虚拟端口软件直连从设备采集数据,需支持InterFace A协议,支持最高10Hz的采集频率; 有较多的异构形态的数据采集需求,数据解析逻辑可配置,无需编码;
半导体厂FDC系统-半导体精密制造FDC解决方案-设备故障侦测及分类FDC …
2023年1月9日 · 格创东智半导体故障侦测及分类fdc系统,对多种数据进行分析和挖掘,建立完善监控模型,实现对设备异常状况的高效监控、提前预警,为异常分析和干预提供强大工具,整体提高设备运行效率和生产力。
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