The FTIR spectrum of the sample confirms the presence of SiO2. The X-ray diffraction (XRD) shows that the sample is cristobalite type of SiO2 which is comparable with ICSD ref. number of...

XRD patterns of pure SiO2 (a), the SiO2@YVO4:Yb 3+ ,Er 3+ samples (b), bulk YVO4:Yb 3+ ,Er 3+ powders annealed at 700 @BULLET C (c). [...] In this paper, the core–shell structured...

Crystallite size and lattice strain were analyzed using several methods: modified Scherrer, Williamson-Hall, and Size-Strain Plot. Fig. 1 shows XRD spectra of SiO2 annealed at 800 °C and 1000...

2015年1月1日 · In this paper, silica nanoparticles were synthesized from tetraethylorthosilicate (TEOS) as a precursor and PVP as a surfactant by employing sol-gel method. By XRD measurement, a broad peak of pure amorphous nature is observed while FTIR analysis showed hygroscopic nature of particles.

2004年7月1日 · In the (Ge:SiO 2)/SiO 2 multilayers annealed, we observed the splitting (fine structure) of X-ray diffraction (XRD) peak of Ge nanocrystals. In view of the analyses on XRD, Raman scattering results, and transmission electron microscope observations (TEM) we suggest that the splitting of the observed XRD peak originates from compressive stress ...

纳米SiO2颗粒的物相研究. 温度在400一800°C,保温时间为3h时,对热解稻壳得到的SiO2粉体样品进行XRD检测分析,发现在400°C和500°C时,得到的样品中存在一些未燃烬的碳,将温度升高到600°C700°C800°C时,发现样品的XRD图谱都为圆丘状的衍射峰,说明SiO2在800°C以下时候,不会 ...

样品1取样于单晶硅样品，比较样品1的衍射图与标准单晶硅的衍射图，存在非常大的差距，由此可认为该样品不是单晶硅。 样品2取样于SiO2，观察样品2的衍射图，发现没有明显的突触，说明测定失败或者样品杂质含量高货或者不是晶体。 通过这次实验，初步了解晶体结构的XRD消光规律，观摩了X射线衍射仪操作过程，并通过对数据的处理和分析，初步学会如何通过XRD方法鉴定物 …

x射线衍射（xrd）是一种常用的技术，可用于分析纳米材料的晶体结构。本文将介绍纳米二氧化硅在xrd衍射图谱中的标准峰值，以便科研人员和工程师更好地理解和分析该材料的结构性质。 实验方法

通过硅酸钠溶液与H2SO4溶液的中和反应，优化了合成无定形SiO2颗粒的实验条件。 通过XRD、FT-IR、FE-SEM、EDS和微电泳对无定形SiO2颗粒进行表征。 无定形峰位于 XRD 图中的 2θ = 21.8o。 初级 SiO2 颗粒大小约为 15 至 30 nm，它们会聚集成更大的颗粒。 无定形 SiO2 颗粒的比表面积高达 130 m2g-1，具体取决于沉淀过程的参数。 无定形 SiO2 颗粒的 EDS 谱没有显示硫酸盐或其他离子的污染，这些都不能排除在痕量之外。 pHzpc =1.7 通过微电泳获得。 通过硅酸 …

XRD patterns of the SiO2, Bi@SiO2 and AC-Bi@SiO2 nanoparticles are shown in Fig. 2. Fig. 2a shows that bare SiO2 indicated that no SiO2 diffraction peaks and broad hump showing that the silica...