当样品不完美时，尤其是当材料缺陷对所被关注的材料特性有益的情况下，利用TEM研究是非常好的选择。 通过分析TEM衍射花样可以解决以下问题：

Selected area (electron) diffraction (abbreviated as SAD or SAED) is a crystallographic experimental technique typically performed using a transmission electron microscope (TEM). It is a specific case of electron diffraction used primarily in material science and solid state physics as one of the most common experimental techniques.

首先需要弄清楚TEM可用于哪些用途，一般有两方面的目的：一是查看形貌和高倍放大固体材料内部缺陷；其次，结合电子衍射技术（SAED）进一步分析了试样晶体结构，晶相组成。

选区电子衍射（Selected area electron diffraction,SAED）成像是指利用TEM成像光路进行衍射操作使物镜背焦面衍射花样向荧光屏投射出拍摄图样的方法。 对SAED进行摄影可得到微米级范围内的结构特征以对物质结构进行定性。 图像采集区域由物镜放大倍数和选区光阑尺寸决定，多晶为衍射环，单晶为衍射点。 (a) 单晶硅 [111]方向的SAED图. 4. 能谱图像. X射线能谱 (Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS)是微区成分分析最为常用的一种方法，基于待测样品的特 …

选区 电子衍射 (SAED,selected area electron diffraction)由选区形貌观察与电子衍射 结构分析 的微区对应性，实现 晶体 样品的形貌特征与 晶体学 性质的 原位分析。 简单地说，选区 电子衍射 借助设置在 物镜 像平面的选区光栏，可以 对产生 衍射的样品区域进行选择，并对选区范围的大小加以限制，从而实现形貌观察和电子衍射的微观对应。 选区电子衍射的基本原理见图。 选区光栏用于挡住光栏孔以外的 电子束，只允许光栏孔以内视场所对应的样品微区的成像电子束通过，使 …

Selected area electron diffraction (SAED) is one of the most common techniques for acquiring two-dimensional (2D) electron diffraction patterns. A selected area aperture, which is located at the imaging plane below the sample, is typically used to …

2024年10月29日 · 衍射花样的重要性在晶体学分析和缺陷表征中无法忽视，亦是透射电镜（TEM）图像形成的关键。 相比扫描电子显微镜（SEM）与光学显微镜，TEM在纳米尺度上确定局部晶体学取向的能力显著。

https://www.youtube.com/watch?v=b8J_-ud3pDk, 视频播放量 11106、弹幕量 5、点赞数 42、投硬币枚数 10、收藏人数 195、转发人数 22, 视频作者 _Hi_Master, 作者简介 ，相关视频：透射电镜基本知识，TEM透射电镜高分辨成像分析，透射样品制样，TEM透射电镜选区衍射操作演示、讲 …

2018年6月29日 · 单纯的 TEM 只能 获得选定区域样品的二维图像信息 [6 －7] ，而采用 TEM 和 SEAD 联合分析，具备以下优点． (1) 可以实现微区物相和晶面结构的同时分 析． 通过 TEM 拍摄所获得的高倍率微区图像，结合 SAED 所获得的图谱信息，不但可以观测微区材料

SAED is designed to sequentially calculate patterns from multiple structures, making it easy to adjust and simulate patterns from twins and multiple coexisting structures with fixed orientations.