The JEM-2100F is a multipurpose, 200 kV FE (Field Emission) analytical electron microscope. Variety of versions is provided to adapt user’s purposes. The FE electron gun (FEG) produces highly stable and bright electron probe that is never …

利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F，不仅可实现超高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪，轻松实现各种分析功能。 Copyright © 2021 清华大学分析中心. All Rights Reserved 京ICP备15006448号....

通讯地址：广州市 天河区 五山路 华南理工大学 20号楼分析测试中心. 邮政编码：510640. 电话(Tel)：020-87111074（业务办）；020-87114006（行政办）

利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F，不仅可实现超高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪，轻松实现各种分析功能。 JEM-2100F最新设计的侧插式侧角台，在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。 SJEM-2100F可与TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera实现一体化控制。 1.高亮度场发射电子枪。 2.束斑尺寸小于0.5nm。 3.新式侧插测角台，更容易倾转、旋转、加热和冷冻，无机械飘移。 4.稳定性好 …

Page 11 1 GENERAL The JEM-2100F is a high resolution analytical electron microscope in the van of the new era accomplished by further improving the JEM-2101F field emission electron microscope that had a ultra high image quality and resolution …

2011年11月22日 · 【第四届原创】JEOL-2100F 操作实战，（根据工程师培训整理）。,根据工程师培训，师兄整理，我小修而成，针对日本电子的2100F型号，适合初学者，不包括电子衍射和EDS。有需要的下吧，欢迎提出宝贵意见！PS：根据版主意见修改了下附件内容。 [align=cen,

2020年4月22日 · 一、主要部件：JEOLJEM-2100F主机、X射线能谱仪（EDS）、电子能量损失谱仪 (EELS)。二、主要性能指标：1、点分辨率：0.24nm；2、线分辨率：0.10nm；3、加速电压：100, 120, 160, 200kV；4、倾斜角：25度；5、STEM分辨率：0.20nm。...

2024年11月5日 · 高分辨透射电子显微镜JEM-2100F能直接观察、研究材料的内部的相组成和分布，以及晶体中位错、层错晶界、空位等缺陷；配合能谱分析可以对样品的化学组成进行定性及半定量分析，是研究材料微观组织最有力的工具之一。 高分辨透射电子显微镜JEM-2100F为西拉姆院士-龙云泽教授、赵海光教授等70多个校内外的科研团队提供了优质透射电子显微表征技术服务。 代表性服务成果：...

仪器型号：JEM-2100F（透射电子显微镜）、X-MaxN 80T IE250（能谱仪）生产厂家：日本JEOL公司（透射电子显微镜）、英国牛津公司（能谱仪）投入日期：2016年12月管理人员：马成建电 话：0515-88298394 / 88298130...

1.分辨率：高达0.14纳米. 2.加速电压：100kV或200kV可选. 3.极限放大倍数：高达1,500,000倍. 4.像差校正：配备球差校正装置，提高分辨率和像质. 5.设备控制：电脑辅助控制系统. 6.显微镜列管：搭载热发射式FEG（Field Emission Gun）电子源. 7.高分辨衍射：配备SAED（Selected Area Electron Diffraction）系统. 8.多种模式：透射电子显微镜模式（TEM）、扫描透射电子显微镜模式（STEM）和高分辨透射电子显微镜模式（HRTEM）等. 9.操作系统：配备简便易用的操作界 …