EMMI是一种极其灵敏的显微镜，其光谱能从可见光区延伸到红外光区，并能捕捉到微弱的荧光。 通过将捕捉到的荧光图片与芯片照片重合便能确定荧光产生的位置。 图二.EMMI中MCP电子放大腔示意图。 图二是EMMI中最为重要的器件之一。 通过该器件，EMMI可以探测到极其微弱的荧光。 （简单形容下原理：EMMI把捕捉到的光子通过在放大腔中放大，形成可观测的光束。 EMMI的本质只是一台光谱范围广，光子灵敏度高的显微镜。 而为何其能应用于IC失效分析，这里就要 …

在 IC 故障分析的流程中，EMMI (又叫做 PEM, Photon Emission Microscope) 是非常基本且常用的故障點定位工具，傳統的 EMMI 是採用冷卻式電荷耦合元件 (C-CCD) 來偵測光子，其偵測波長範圍介於 400nm 到 1100nm 間，此波長相當於可見光和紅外光。

EMMI (Emission Microscopy)是用來做故障點定位、尋找亮點、熱點(Hot Spot)的工具。 其具備高靈敏度的制冷式電荷(光)耦合元件(C-CCD)偵測器，可偵測元件中電子－電洞再結合時所發射出來的光子，其光波長在 350 nm ~ 1100 nm，此範圍相當於可見光和紅外光區。

EMMI (Emission Microscopy)是用来做故障点定位、寻找亮点、热点(hot spot)的工具。 其具备高灵敏度的制冷式电荷(光)耦合组件(C-CCD)侦测器，可侦测组件中电子－电洞再结合时所发射出来的光子，其光波长在 350 nm ~ 1100 nm，此范围相当于可见光和红外光区。

2025年2月11日 · Emmi is the leading manufacturer of high-quality dairy products in Switzerland, with a strong local presence in 15 countries. The company distributes its quality products in around 60 countries and manufactures these at 72 of its own production sites in 13 countries.

2023年6月17日 · 在半导体故障失效分析的流程中，EMMI(又叫做PEM, Photon Emission Microscope，光发射显微镜，微光显微镜)是常用的故障点定位工具，传统的EMMI是采用冷却式电荷耦合元件(C-CCD)来侦测光子，其侦测波长范围介于400nm到1100nm间，此波长相当于可见光 …

对于半导体失效分析(FA)而言，微光显微镜(Emission Microscope, EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。 微光显微镜其高灵敏度的侦测能力，可侦测到半导体组件中电子－电洞对再结合时所发射出来的光线，能侦测到的波长约在350nm ~ 1100nm 左右。

Emmi ist die führende Herstellerin von hochwertigen Milchprodukten in der Schweiz mit einer eigenen Präsenz in 15 Ländern. Ihre Qualitätsprodukte vertreibt Emmi in rund 60 Ländern und stellt diese an 72 eigenen Produktionsstandorten in 13 Ländern her.

传统的EMMI设备使用冷却式电荷耦合元件（C-CCD）传感器，能够探测400nm至1100nm波长的光子，覆盖了可见光和部分红外光的光谱。 InGaAs EMMI设备则在这一基础上进行了改进，具有更高的灵敏度，并能探测更宽的波长范围（900nm至1700nm），这使得它能够更有效地捕捉到 ...

对於故障分析而言,微光显微镜(Emission Microscope, EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。 其基本原理是可侦测非常微小的光放射,主要侦测IC内部所放出光子。 在IC 元件中,EHP(Electron Hole Pairs) Recombination会放出光子(Photon)。 PEM 就是将显微镜(OM) 加上影像撷取系统,且能接收较大的波长范围 (500nm - 1500nm),他的光学系统是 PEM设备上决定其设备性能的关键 高的数值孔径(numerical aperture, NA): 长焦距镜头(high working distance, WD) …