2022年2月26日 · 2. DUT = Device Under Test. 待测设备，半导体行业一般是电子元器件/芯片。 3. PIB = Prober Interface Board. 探针接口板：介于测试机探针台和半导体晶圆或芯片之间。

2019年8月4日 · 管脚电路（PE,Pin Electronics）是测试系统资源部和待测器件之间的接口，它给待测器件提供输入信号并接收待测器件的输出信号. 1.永远不要将 DUT 的输入管脚当作输出管脚 …

2017年7月27日 · DUT pin是个变量（Variant），可以接受由DUT映射命令定义的DUT名称，DUT pin作为文本参数，或DUT pin number作为一个数字参数。 通过引用（指针）传递另外两个参 …

2016年12月4日 · DUT是Device Under Test的縮寫，中文直稱為待測物。 有時，也稱待測單元UUT (Unit Under Test)。 IC設計者，會利用接腳傳遞訊號，這些接腳英文稱為Pin。 積體電路裡，有 …

对测试机进行编写程序，从而使得测试机产生任何类型的信号，多个信号一起组成测试模式或测试向量，在时间轴的某一点上向dut施加一个测试向量，将dut产生的输出反馈输入测试机的仪器 …

2025年4月2日 · DUT，即被测器件，指在测试过程中被测量、分析或验证性能的集成电路或电子组件。 在集成电路测试领域，DUT通常是芯片或特定模块，ATE将对其施加各种电压、电流信 …

在半导体测试中，DUT（Device Under Test）指的是正被测试的半导体器件，它是整个测试流程中的关键对象。DUT的正确设置和功能理解是确保测试结果准确性的前提。

我们知道，不论是哪一级的验证，最终都是通过 pin 连接到 DUT 上向其施加激励， 对于 UVM 验证平台中，使用虚接口来实现 DUT 和验证平台的通信。 为了简化模块之间的连接和实现类和 …

2018年5月9日 · 其实dut的电路设计，也是分为资源分配和具体应用电路两个方面，我们一项一项来看。 DUT resource assignment 一、电源的分配 电源，又是电源。 可能对于芯片来说，电 …

2023年3月21日 · 我们知道，不论是哪一级的验证，最终都是通过 pi n 连接到 DUT 上向其施加激励， 对于 UVM 验证平台中，使用虚 接口 来实现 DUT 和验证平台的 通信。 为了简化模块之 …