X-ray diffraction is a generic term for phenomena associated with changes in the direction of X-ray beams due to interactions with the electrons around atoms. It occurs due to elastic scattering, when there is no change in the energy of the waves. The resulting map of the directions of the X-rays far from the sample is called a diffraction pattern.

XRD（X-ray Diffraction）中文全称是 X射线衍射 ，是一种快速、准确、高效的材料无损检测技术。作为一种表征晶体结构及其变化规律的手段，其应用遍及材料、化学、生物、医药、陶瓷、冶金、矿产等诸多领域。

2022年8月22日 · X-ray diffraction is a common technique that determine a sample's composition or crystalline structure. For larger crystals such as macromolecules and inorganic compounds, it can be used to determine the structure of atoms within the sample. If the crystal size is too small, it can determine sample composition, crystallinity, and phase purity.

2010年10月8日 · XRD全称X射线衍射（X-RayDiffraction）,利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。 利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，并拥有“透视眼”来看晶体内部是否存在缺…

Formula: C PDF Number: 65-6212 Quality: calculated Subfiles: inorganic alloy NST Cell and Symmetry Information System: hexagonal Space Group: P63/mmc (no. ...

X射线衍射技术是利用X射线在晶体、非晶体中衍射与散射效应，进行物相的和定量分析、结构类型和不完整性分析的技术；是对物质和材料的组成和原子级结构进行研究和鉴定的基本手段。 X射线衍射技术以其无损、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，广泛应用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教学，材料生产等领域。 XRD原理： X射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，大约在10-8～10-10cm之间，因此 晶体 可以作为X射线的空 …

通过测定衍射角位置（峰位）可以进行化合物的定性分析，测定谱线的积分强度（峰强度）可以进行定量分析，而测定谱线强度随角度的变化关系可进行晶粒的大小和形状的检测。 1912年劳埃等人根据理论预见，并用实验证实了 X射线 与晶体相遇时能发生 衍射现象，证明了X射线具有 电磁波 的性质，成为X射线衍射学的第一个里程碑。 当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的 晶胞 组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线 波长 有. 相同数量级，故 …

(Roentgenstrahlinterferenzen), commonly known as X-ray diffraction (XRD), and was direct evidence for the periodic atomic structure of crystals postulated for several centuries. The Braggs were awarded the Nobel Prize in physics in 1915 for their work in determining crystal structures beginning with NaCl, ZnS and diamond.

2017年9月6日 · 对于人造石墨的结构表征，目前大多使用X射线衍射法（XRD法）测量石墨化度。 所谓石墨化度，即碳原子形成密排六方石墨晶体结构的程度，其晶格尺寸越接近理想石墨的点阵常数，石墨化度越高。 XRD法测定石墨化度即先测定石墨（002）晶面层间距d002，然后代入Mering–Maire公式（也称富兰克林公式）计算： G = (0.3440 – d002) / (0.3440 – 0.3354) × 100% （1）式中： G为石墨化度，%；0.3440为非石墨化炭的层间距，nm；0.3354为理想石墨晶体 …

随着xrd标准数据库的日益完善，xrd物相分析变得越来越简单，目前最常见的操作方式是将样品的xrd谱图与标准谱图进行对比来确定样品的物相组成。 XRD标准数据库包括JCPDS（即PDF卡片）,ICSD，CCDC等，分析XRD谱图的软件包括Jade，Xpert Highscore等，这里推荐使用 Jade。