ipcb是一家bib（老化板）老化測試板製造商，提供專業的bib（老化板）老化測試板製造。 精密PCB製造、高頻PCB、高速PCB、標準PCB、多層PCB和PCB組裝。 最可靠的PCB & PCBA定制服務工廠。

BIB（BURN IN BOARD，老化测试），完成封装测试的IC在特定的工况和时间内老化测试，以检验IC的可靠性。 BIB就是用于IC老化测试的PCB 板件。

2024年7月27日 · 老化测试板（Burn-in Board，简称BIB）：老化板（BIB）用于封装后芯片的老化测试，如热循环或加速开关循环，以暴露器件的早期失效故障。 老化板的PCB材料必须能够承受长时间和反复的高温环境暴露，具有极高的可靠性。

老化板（BIB）只是一种用于进行老化测试的电路板。 从功能上来说，它作为一个夹具，在整个过程中固定被测元件及其各自的电路。 但“烧机测试”首先是什么呢？ 在电子行业，术语“老化测试”用于表示使用更高热量和电压/电流进行压力测试的过程 电子元器件。 这就是老化板发挥作用的地方。 测试期间，组件固定在电路板上并承受高于 125 摄氏度的高压和温度。 这模拟了稍微超出现实世界情况的条件。 任何老化测试的目的都是触发并诱发有缺陷的半导体器件的故障。 然后测 …

我们创建了 bib，该 bib 可容纳接受测试的特定设备的插座，并设计成能够在测试的同时承受高温。 当对特定设备进行电信号和功率测试时，BIB 流程会检查其可靠性。

配合客戶IC工作壽命試驗需求（電壓, 溫度, 獨立溫控），客製老化試驗板，讓客戶可以在各系統進行IC 壽命實驗，以檢測產品本身功能性與特性是否會因環境條件而有所改變，評估IC產品在長時間下操作的壽命。 加速壽命試驗的目的是提高環境應力與工作應力（施加給產品的電壓、負荷、溼度等）專用測試板。

Burn in Board is a printed circuit board that function as a bound in Burn-in process. Used as part of reliability testing. We supply HAST, HTOL boards and others type.

IC老化测试板 BIB (Burn-In Board)做为半导体IC的载具，将需要测试的IC通过SOCKET或其它方式与IC老化测试板 BIB (Burn-In Board)连接，放入测试机台内对IC的不同温度，电压，信号等进行测试，检验IC的可靠性。 BIB (Burn-In Board)老化测试板产品： (1) HTOL测试 (High-temperature Operation Life) HTOL主要是模拟ic在高温的环境下，连续通电 (加入电压或是电流)的Life试验，用来检测ic本身功能性与特性是否会因环境条件而有所改变，评估IC的长时间的操作寿命。 (2) …

Burn In Board (BIB) testing is a screening method used to eliminate defective components in fully processed microelectronic components using accelerated aging. This screening is obtained by applying pressure operating conditions.

The IC burn in board (BIB) is used as a carrier for semiconductor ICs. The IC to be tested is connected to the IC burn-in test board BIB (Burn-In Board) through SOCKET or other methods, and placed in the test machine to the different temperatures of the IC, Voltage, signal, etc. to test the reliability of the IC.