我们的Dimension Icon新型多功能原子力显微镜系统通过其ScanAsyst和PeakForce QMM模式揭示了样品纳米尺度的形貌和表面性质，如黏附性和模量等。通过结合导电AFM和KPFM功能，可以观察到界面和器件的特性，帮助我们更详细地了解剖面形态和界面状态。

Bruker’s Dimension Icon is the most customizable and flexible AFM on the planet. The Dimension Icon has enabled key advances in our lab, namely the development of surface voltage microscopy and elucidation of charge transfer dynamics that are at the heart of photoanodes for solar fuel.

Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的AFM应用体验，其测试功能强大，操作简便易行。 仍然以世界上应用最广泛的AFM大样品平台为基础，齐集 Dimension系统数十年的技术经验，广大客户反馈，结合工业领域的设备需求，进行全面革新。 全新的系统设计，实现了前所未有的低漂移和低噪音水平，现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。 Dimension® Icon™优秀的图像分辨率，与Bruker特有的电子扫描算法相结 …

由于很多扫描探针显微术都是从afm 衍生出来的，我们这里只简单介绍一下afm 的 几种基本成像模式。 轻敲模式AFM：通过使用处于振动状态的探针针尖对样品表面进行敲击来生成形貌图

2023年11月9日 · 原子力显微镜(afm)通过检测待测样品表面和探针之间的相互作用力来表征样品的表面结构及性质,它可以对样品的表面形貌起伏、结构变化进行表征，获得样品表面的形貌、粗糙度和结构尺寸等信息。

Bruker’s Dimension® IconTM Atomic Force Microscope (AFM) System introduces new levels of performance, functionality, and AFM accessibility to nanoscale researchers in science and industry.

2024年12月5日 · The Bruker ICON AFM is an atomic force microscope (AFM) system that offers diverse capabilities. Some scanning modes include tapping, contact, magnetic, Kelvin Probe (KPFM), electrical, PeakForce tapping, etc.

原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种 可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器 。 它通过检测 待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力 来研究物质的表面结构及性质。

2023年11月10日 · Dimension® Icon™是布鲁克在针尖扫描技术上的一项革新技术，具有卓越的分辨率，与Bruker独特的电子扫描算法相结合，显著提升了测量速度与质量。 系统配置温度补偿位置传感器，实现了 Z 轴亚埃级和 XY 轴埃级的低噪音水平，将这个性能应用在 90 微米扫描范围、大样品台系统上，效果甚至超过大部分高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。 XYZ 闭环扫描头的新设计使仪器在较高扫描速度工作时，图像质量也不会被损坏，实现了更大的数据采集输出量 …

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