Ag纳米颗粒平均尺寸为5nm， 高分辨快速傅里叶变化 显示存在 (220)、 (111)晶面，与 XRD 结果对应。 Ag纳米颗粒周围有明显的CNTs管壁缺失，表明Ag颗粒深嵌入CNTs。

对晶体结构及暴露晶面的分析可分为通过HRTEM（比例尺≤5nm）进行晶格间距的分析和通过SAED对晶体结构和晶相的判断，具体步骤如下： 1、对HRTEM分析. 1.标卡的标定. 打开Digital Mcrograph（D.M.) File - open - 选择文件- 打开（dm3格式、JPEG、TIFF也可，D.M.可直接识别文件中的标尺、放大倍数、仪器型号等故有些情况下第一步“标卡的标定可以省略”）。 通过右上角工具栏放大镜功能，选中后单击鼠标可放大图片（按住ALT单击鼠标缩小）。 放大标卡位置， …

2013年9月11日 · TEM选取电子衍射5 1/nm,拍的SAED图下面的标注是5 1/nm，请问大侠是什么意思？如果要测量R，该如何作比较。要不然图的大小对R的测量也有影响呀。求大侠相助。,

据我所知是两个概念吧，tem是透射电镜总称，hrtem是高分辨透射电镜相，高分辨一般用来看晶相 (单晶，多晶，非晶等)，还可以量晶相，晶面间距标定具体是什么相；tem还可以做stem，选区电子衍射，dex等，所以个人觉得tem是总称，hrtem是具体的一种表征手段

L0、L1的长度是下面图中量出的实际长度，不管你是用米尺还是游标卡尺测量，只要L0、L1的单位一致就可以了，而“标尺”就是图中的5 1/nm。 图片可以等比例放大测量，并不影响结果。 由此计算出的晶面间距d的单位就是nm. 通常我们不仅仅计算一个晶面间距，而是计算出一个平行四边形所对应的晶面数据信息。 这包括两条边、一条对角线所对应的晶面间距，以及各边相互之间的夹角对应的正空间中晶面的夹角。 这些信息在一起才相当于一个指纹的信息。

样品DLS测出的粒径是10nm，为啥TEM测出来的是20nm？ 测试原理不同，TEM为图片结果，是样品真实形貌，其他测试由曲线得出的颗粒尺寸为计算值。

仪器名称高分辨透射电子显微镜（配能谱元素分析） 仪器型号、生产厂家JEM-2010型,日本电子(JEOL) 基本性能、指标. 加速电压：80，100，120，160，200KV。

2013年4月2日 · TEM配STEM获得元素面分布图 （分辨率5nm）, [font=宋体, Arial, Helvetica, sans-serif] [size=14px] [back=#fbfbf9]研究人员采用带STEM模式的场发射透射电镜观察Cu-Zn-S化物，并采用,

2018年10月22日 · 微缩技术不断演进，TEM试片制备厚度是TEM分析能力的重要指针，泛铨的超薄5奈米TEM试片制备能力，居同业之冠。 技术长陈荣钦博士表示，材料分析产业只要有钱、愿意投资，引入先进仪器并不难，但单凭设备并无法建立绝对的竞争力;他强调，好的分析设备须配合优异的试片制备技术以及精准的数据判读能力，这是分析质量的关键。 泛铨科技董事长柳纪纶表示，南科分公司重资引进先进设备，阵容浩大，将以「技术x质量x服务」为优势，迎接营运黄金 …

The JEOL JEM 2100 TEM is an analytical transmission electron microscope using a LaB6 electron source. This TEM was installed in 2016 for general day-to-day research and research training. TEM has been heavily used due to its STEM-EDS mapping (maximum resolution 5nm) and polymeric and biological samples imaging capabilities.