KPFM(Kelvin Probe Force Microscopy)开尔文探针力显微镜，也叫SKPM（Scanning Kelvin Probe Force Microscopy）扫描开尔文探针力显微镜。 本篇笔记介绍的是最常见的双次扫描振幅调制 …

用skpm 模式测量功函数，首先需要将探针和样品都连接在afm 的电路中。 对于探针来说，我们将它安装在Cantilever Holder 上，AFM 通过夹探针的铁片给探针加电压。

2024年5月21日 · 也就是说，在 skpm 中，我们就是用探针上的电压 去刚好抵 消探针相对于样品的 CPD。 如果假设有一台 AFM，在 SKPM 工作时 DC 电压是加在样品上的，而 依然定义为探 …

2018年7月31日 · 在动态非接触模式下，最具发展潜力的电学 测量模式是扫描开尔文探针显微术(scanning Kelvin probe microcopy，SKPM)，其工作原理是当导 电针尖接近样品表面时，由于 …

2021年11月1日 · Amplitude modulation scanning Kelvin probe microscopy (AM-SKPM) is widely used to measure the contact potential difference (CPD) between probe and samples in …

扫描开尔文探针力显微镜 (skpm) 是扫描探针显微镜 (spm) 系列的一员，源自非接触式原子力显微镜 (ncafm) 技术。 由尖端和样品表面之间的功函数差产生的接触电位差 (CPD) 可以使用 …

Kelvin probe force microscopy (KPFM) [3, 4], also called scanning Kelvin probe microscopy (SKPM) or scanning potential microscopy (SPoM), was developed by Wickramasinghe et al. in …

2018年5月11日 · Scanning Kelvin probe microscopy (SKPM) is a variation of atomic force microscopy (AFM) that makes it possible to map not only the morphology of solid sample …

SKPM Scanning kelvin probe microscopy is used for measuring potential maps of samples in an atomic force microscope. This modular mode can be used with all AFMWorkshop products. …

skpm/skpm - The simplest possible plugin setup. (default) skpm/with-prettier - A plugin setup featuring linting with ESLint and code formatting with Prettier. skpm/with-datasupplier - A …